Nowa metoda analizy obrazów z PEEM i LEEM

Naukowcy z Uniwersytetu Keplera w Linz w Austrii wraz dr hab. Grażyną Antczak opracowali metodę analizy obrazów z mikroskopii emisyjnej fotoelektronów (PEEM) oraz mikroskopii elektronowej o niskiej energii (LEEM) pozwalającą na wyznaczenie typu wzrostu molekularnego. Wyniki zostały opublikowane w renomowanym czasopiśmie „Ultramicroscopy” w artykule zatytułowanym „Standard deviation of microscopy images used as indicator for growth stages” (Ultramicroscopy, Vol. 233, March 2022, 113427).

Stosując tą metodę można łatwo odróżnić kondensację faz stałych takich jak wyspy 2D lub krystality 3D od dwuwymiarowej fazy gazowej. Taka dwuwymiarowa faza gazowa składa się z cząsteczek, które są mobilne i dyfundują na całej powierzchni. Poszczególne cząsteczki są zbyt małe, aby można je było zaobserwować bezpośrednio w obrazach PEEM/LEEM.

W pracy omówione zostało, w jaki sposób obiekty poniżej i powyżej limitu rozdzielczości PEEM/LEEM wpływają na średnią wydajność elektronową i jej (znormalizowane) odchylenie standardowe. Wnioski zobrazowane są dwoma przykładami eksperymentalnymi: molekularnym wzrostem ftalocyjaniny kobaltu (CoPc) na Ag(100) (na rysunku) i wzrostem perfluoro-pentacenu na powierzchni Ag(110). Wyniki pokazują, jak może przebiegać przestrzenna i czasowa analiza serii obrazów aby uzyskać informację o fazach molekularnych, których nie można bezpośrednio zaobserwować na obrazach mikroskopowych.

ultramicroscopy

Dodała: Joanna Molenda-Żakowicz

Pełnomocnik Dziekana ds. promocji i kontaktów z mediami