Symulacja mikroskopii jonowej jest bardzo trudna ze względu na występowanie 3 skal długości (w prawdziwym eksperymencie badana próbka jest o kilka rzędów wielkości mniejsza od komory mikroskopu, a cechy jej powierzchni np. krawędzie i wierzchołki opisuje się już w skali atomowej). Wcześniejsze symulacje 3D ograniczały się tylko do bliskiej (<20nm) odległości od próbki, albo zakładały symetrię osiową i redukowały problem do 2D. Celem niniejszej pracy było stworzenie modelu 3D, umożliwiającego wieloskalowe symulacje obrazów FIM. Udało się to dzięki specjalnemu podejściu do obliczania pola elektrycznego, poprzez trzykrotne rozwiązywanie równania Laplace’a, w coraz mniejszej objętości. Zastosowanie tego modelu do badania ostrzy wolframowych z fasetkami ujawniło, że deformacje ich obrazów są tak duże, że nie można prawidłowo odtworzyć ich kształtów używając popularnej metody bazującej na geometrii rzutowej, przez co prosta analiza obrazów FIM może prowadzić do ich błędnej interpretacji.